變溫克爾（磁光）效應測試系統(tǒng)變溫克爾（磁光）效應測試系統(tǒng)

是由電磁鐵，電磁鐵電源，綜合性克爾效應測試儀及光學配件（激光器，檢偏器，光闌，聚焦透鏡，四分之一波片，光電傳感器，電流放大器，光學平臺等）是一種基于磁光效應原理設計的超高靈敏度磁強計，可以測量軟磁，硅鋼片，不銹鋼，坡莫合金薄膜，硅基鍍鋁膜，是研究納米磁性技術，磁阻巨磁阻，磁性薄膜、磁性微結(jié)構以及樣品磁化強度和樣品各向異性的測量工具。

技術參數(shù)（表一）

磁光克爾系統(tǒng)技術參數(shù)（表二）

磁光克爾系統(tǒng)技術參數(shù)（表三）

附錄（一）：

附錄（二）：

磁光效應是指處于磁化狀態(tài)的物質(zhì)與光之間發(fā)生相互作用而引起的各種光學現(xiàn)象。包括法拉第效應、克爾磁光效應、塞曼效應和科頓-穆頓效應等。這些效應均起源于物質(zhì)的磁化，反映了光與物質(zhì)磁性間的。

光與磁場中的物質(zhì)，或光與具有自發(fā)磁化強度的物質(zhì)之間相互作用所產(chǎn)生的各種現(xiàn)象，主要包括法拉第效應、科頓-穆頓效應、克爾磁光效應、塞曼效應和光磁效應。
　　

法拉第效應

線偏振光透過放置磁場中的物質(zhì)，沿著磁場方向傳播時，光的偏振面發(fā)生旋轉(zhuǎn)的現(xiàn)象。也稱法拉第旋轉(zhuǎn)或磁圓雙折射效應,簡記為MCB。一般材料中，法拉第旋轉(zhuǎn)（用旋轉(zhuǎn)角θ_F表示）和樣品長度l、磁感應強度B有以下關系 θ_F＝VlB,

V是與物質(zhì)性質(zhì)、光的頻率有關的常數(shù),稱為費爾德常數(shù)。

因為磁場下電子的運動總附加有右旋的拉莫爾進動，當光的傳播方向相反時，偏振面旋轉(zhuǎn)角方向不倒轉(zhuǎn)，所以法拉第效應是非互易效應。這種非互易的本質(zhì)在微波和光的通信中是很重要的。許多微波、光的隔離器、環(huán)行器、開關就是用旋轉(zhuǎn)角大的磁性材料制作的。圖1是隔離器的原理。利用法拉第效應，還可實現(xiàn)光的顯示、調(diào)制等許多重要應用。

磁光效應圖冊

當左、右旋圓偏振光在置于磁場中的媒質(zhì)內(nèi)傳播而有不同的吸收系數(shù)時，入射的線偏振光傳播一段距離后會變?yōu)闄E圓偏振光，這個效應叫法拉第橢圓度效應或磁圓二向色性效應,簡記為MCD。法拉第橢圓度和法拉第旋轉(zhuǎn)均由媒質(zhì)的介電張量非對角組元的實部和虛部決定。